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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]制备透射电子显微镜样品的方法-CN201610612977.8在审
发明人：陈强;邱燕蓉 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2016-07-29 - 公布日： 2016-12-14 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种制备透射电子显微镜样品的方法，包括：第一步骤：利用聚焦离子束对需要制备的芯片样品进行处理，以获得透射电子显微镜薄片样品；第二步骤：使用反应气体对透射电子显微镜薄片样品进行处理；第三步骤：利用透射电子显微镜对处理后的透射电子显微镜样品薄片进行观测。
制备透射电子显微镜样品方法

[发明专利]透射电子显微镜图像畸变的表征方法及表征装置-CN201911403921.1有效
发明人：张正飞;魏强民 -专利权人：长江存储科技有限责任公司
申请日： 2019-12-31 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01N23/2055 文献下载
摘要：本发明提供了一种透射电子显微镜图像畸变的表征方法。透射电子显微镜图像畸变的表征方法包括如下步骤：形成多个第一通孔组；获取样品在一第一参考倍率下的第一透射电子显微镜图像、以及第一目标倍率下的第二透射电子显微镜图像，第一目标倍率低于第一参考倍率；获取第一透射电子显微镜图像中每一第一通孔组内的两个第一通孔之间的第一参考距离、以及第二透射电子显微镜图像中每一第一通孔组内的两个第一通孔之间的第一目标距离；获取第一目标倍率下的透射电子显微镜图像相对于第一参考倍率下的透射电子显微镜图像的畸变信息。本发明可以获得在低于参考倍率的目标倍率下的透射电子显微镜图像畸变情况，操作简单、便捷。
透射电子显微镜图像畸变表征方法装置

[发明专利]透射电子显微镜样品支撑膜和透射电子显微镜样品的制作方法-CN201110040813.X无效
发明人：元冰;马余强 -专利权人：南京大学
申请日： 2011-02-18 - 公布日： 2011-08-03 - 主分类号： H01J37/20 文献下载
摘要：本发明涉及透射电子显微镜样品支撑膜及透射电子显微镜样品的制作方法。所述透射电子显微镜样品支撑膜由多孔微栅支持膜基底和覆于基底上的单层氧化石墨烯薄膜组成，单层氧化石墨烯薄膜的覆盖密度为0.7×10-6～14×10-6mg/mm2多孔微栅，优选为0.7×10-6～3.5×该种单层氧化石墨烯薄膜可作为透射电子显微镜样品搭载膜来制作透射电子显微镜样品。本发明的有益效果是，设计和制备了一种新的透射电子显微镜样品支撑膜，具有比传统的碳支持膜更薄的厚度、更强的机械强度和更好的材料分散效果；用它来搭载材料进行材料的透射电子显微镜观察，可以获得更高的分辨率和清晰度
透射电子显微镜样品支撑制作方法

[发明专利]一种基于计算机图像处理的大气粒子观察显微镜-CN202310634498.6在审
发明人：陶星宇;汪小桐;郭浩然;吴昊 -专利权人：成都信息工程大学
申请日： 2023-05-31 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：本发明涉及大气观察设备技术领域，具体公开了一种基于计算机图像处理的大气粒子观察显微镜，包括：样品制备、透射电子显微镜观察、去模糊处理、误差补偿和调节倍数；本发明通过采用直接采样法，将大气粒子采样在铜网上，通过透射电子显微镜对铜网进行观察，形成透射电子显微镜图像，同时利用卷积神经网络对图像进行学习，通过生成对抗网络对透射电子显微镜图像进行去模糊处理，提高画面清晰度，同时利用误差补偿，对图像进行误差补偿，减小因透射电子显微镜本身的误差给观测结果带来的影响，此外通过计算机编程调节透射电子显微镜的提高倍率，来根据需要观察大气粒子的类型和数量，从而便于提高观察效率和准确性。
一种基于计算机图像处理大气粒子观察显微镜

[发明专利]一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法-CN202010067583.5有效
发明人：魏大庆;邹永纯;杜青;郭舒;张宝友;来忠红 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2020-01-20 - 公布日： 2020-09-22 - 主分类号： B08B7/00 文献下载
摘要：一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法，本发明涉及清理透射电子显微镜光阑的方法。本发明要解决现有透射电子显微镜中的光阑污染及堵塞后无法清理的问题。方法：一、透射电子显微镜光阑固定与区域观察；二、透射电子显微镜光阑粗加工；三、透射电子显微镜光阑细加工；四、透射电子显微镜光阑精加工，即完成聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑的方法。本发明适用于清理透射电子显微镜光阑。
一种聚焦离子束清理透射电子显微镜光阑方法

[发明专利]一种可视化透射电子显微镜演示装置-CN201610237039.4在审
发明人：岳峻逸;谭成文;苏铁健;于晓东;姜威宇 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2016-04-15 - 公布日： 2016-08-24 - 主分类号： G09B23/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种可视化透射电子显微镜演示装置，属于电子显微镜演示技术领域。本发明通过“以激光模拟透射电子显微镜的高能电子束”、“以样品光栅模拟具有周期结构的晶体样品”、“以‘透镜组’+‘摄像机(或光屏)’来模拟透射电子显微镜的成像系统”，实现了对透射电子显微镜的工作模式的模拟适用于透射电镜原理及使用方法的教学，可以解决现阶段该类课程教学主要基于书本而过于抽象，学生难以理解透射电镜相对复杂的工作的问题。
一种可视化透射电子显微镜演示装置

[实用新型]一种可视化透射电子显微镜演示装置-CN201620320521.X有效
发明人：岳峻逸;谭成文;苏铁健;于晓东;姜威宇 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2016-04-15 - 公布日： 2017-04-19 - 主分类号： G09B23/22 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种可视化透射电子显微镜演示装置，属于电子显微镜演示技术领域。本实用新型通过“以激光模拟透射电子显微镜的高能电子束”、“以样品光栅模拟具有周期结构的晶体样品”、“以‘透镜组’+‘摄像机(或光屏)’来模拟透射电子显微镜的成像系统”，实现了对透射电子显微镜的工作模式的模拟适用于透射电镜原理及使用方法的教学，可以解决现阶段该类课程教学主要基于书本而过于抽象，学生难以理解透射电镜相对复杂的工作的问题。
一种可视化透射电子显微镜演示装置

[发明专利]制备透射电子显微镜样品的方法-CN202010513567.4有效
发明人：郑义明;杨詠钧;杨培华;谢忠诚 -专利权人：全德科技（厦门）有限公司
申请日： 2020-06-08 - 公布日： 2023-07-21 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本揭示内容涉及透射电子显微镜样品的制备，提供了制备透射电子显微镜样品的方法，包含：提供初始透射电子显微镜样品，其中初始透射电子显微镜样品包含金属层以及氧化层，氧化层位于金属层上；以及形成保护结构于氧化层的上表面上，获得透射电子显微镜样品；其中，当形成保护结构于氧化层的上表面上，是形成非晶保护层于氧化层的上表面上，接着，形成导电层于非晶保护层上，获得透射电子显微镜样品；或是当形成保护结构于氧化层的所述上表面上，是形成碳膜于氧化层的上表面上
制备透射电子显微镜样品方法

[实用新型]一种中位安装透镜耦合透射电子显微镜数字成像系统-CN201720194774.1有效
发明人：刘卫东;寇春合;王恺然 -专利权人：锐晶分析仪器科技（天津）有限公司
申请日： 2017-03-02 - 公布日： 2017-09-15 - 主分类号： H01J37/22 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种中位安装透镜耦合透射电子显微镜数字成像系统，包括底板、投射电子显微镜照相室、相机室和金属筒，所述投射电子显微镜照相室的底端安装有底板，且底板的顶端安装有铅玻璃。本实用新型通过安装了一块可以将电子束转换为可见光的高亮度、高分辨率荧光屏，且荧光屏通过一个金属筒固定在装有带增透膜的铅玻璃的透射电子显微镜照相室底板上，光学透镜和专用数码相机则在真空外与透射电子显微镜照相室底板连接，使得该系统具有接近透射电子显微镜通用胶片相机的有效成像面积和视野，特别适合需要即拍摄电子衍射图像又要拍摄高分辨像的材料科学、失效分析等领域。
一种安装透镜耦合透射电子显微镜数字成像系统

[实用新型]一种可加磁场的透射电子显微镜样品杆-CN202221786752.1有效
发明人：肖旋 -专利权人：沈阳综科谱联科技有限公司
申请日： 2022-07-12 - 公布日： 2022-11-29 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种可加磁场的透射电子显微镜样品杆，包括前端细杆主体，前端细杆主体的一侧设置有样品杆头，样品杆头的顶部设置有样品上盖片，样品上盖片的底部设置有样品下盖片；该一种可加磁场的透射电子显微镜样品杆通过设置样品固定机构，通过转动样品固定板使得样品放置孔显露，讲样品放置在样品放置孔内部，再次转动样品固定板直至到样品放置孔顶部，通过拧紧固定板调节螺栓，将样品固定板固定在样品放置孔顶部，使得对样品进行固定，此时将该显微镜样品杆放入透射电子显微镜中，使得透射电子显微镜对样品观察口内部的样品进行观察，实现了该一种可加磁场的透射电子显微镜样品杆的样品固定功能。
一种磁场透射电子显微镜样品

[发明专利]基于透射电子显微镜的T91钢老化评级方法-CN201310240618.0有效
发明人：万强;杨兵;王如意;刘辉东;陈燕鸣 -专利权人：武汉大学
申请日： 2013-06-17 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G01N1/32 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于透射电子显微镜的T91钢老化评级方法，包括步骤：步骤1，获取待评级试样和原始试样的透射电子显微镜图；步骤2，统计待评级试样和原始试样的透射电子显微镜图中晶界碳化物颗粒数目及尺寸；步骤3，基于待评级试样和原始试样的透射电子显微镜图中晶界碳化物颗粒的尺寸差异，对待评级试样的老化程度进行评级。
基于透射电子显微镜 t91 老化评级方法

[发明专利]透射电子显微镜样品的制备方法-CN202310582106.6在审
发明人：黄毅;陈胜;高金德 -专利权人：上海华力集成电路制造有限公司
申请日： 2023-05-22 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01N1/28 文献下载
摘要：本发明提供一种透射电子显微镜样品的制备方法，先对半导体衬底进行切割以切割出样片，样片包括掉落至半导体衬底的表面上的目标样品及半导体衬底的一部分；然后，将样片转移并固定至样品载网上；并沿样片远离目标样品的表面减薄样片，以形成透射电子显微镜样品，透射电子显微镜样品至少包括目标样品。由于在目标样品掉落至半导体衬底之后，将半导体衬底与其表面的目标样品一起转移并固定至样品载网，可以避免玻璃针二次提取可能带来的物理性戳伤，并且，由于是采用沿样片远离目标样品的表面减薄样片的方法来暴露出目标样品，进而形成透射电子显微镜样品，可以提高制备透射电子显微镜样品的成功率。
透射电子显微镜样品制备方法

[发明专利]一种适用于扫描/透射电子显微镜成像的自动聚焦方法-CN201910034869.0有效
发明人：季刚;李喜霞;张建国;孙飞 -专利权人：中国科学院生物物理研究所
申请日： 2019-01-15 - 公布日： 2020-06-12 - 主分类号： H04N5/232 文献下载
摘要：本发明公开了一种适用于扫描/透射电子显微镜成像的自动聚焦方法，包括如下步骤：将样品放置在扫描/透射电子显微镜的样品室内；设置扫描/透射电子显微镜的成像参数、以及物镜/聚光镜的聚焦参数的范围；通过扫描/透射电子显微镜对样品在物镜/聚光镜的聚焦参数的范围内变焦扫描，并生成相应的图像；将获取的图像分割成若干子图像；对子图像进行图像清晰度评价，确定标准子图像，将标准子图像所对应的物镜/聚光镜的聚焦参数定为物镜/聚光镜的最佳聚焦值；将物镜/聚光镜的聚焦参数设定为最佳聚焦值后，对样品进行成像。通过该方法对扫描/透射电子显微成像进行自动聚焦，只需要采集一张样品图像即可聚焦。
一种适用于扫描透射电子显微镜成像自动聚焦方法

[发明专利]一种透射电子显微镜电子衍射CCD成像装置-CN201410617417.2在审
发明人：黎刚;张同亮;杨永健;李洁;李红华;张庆华 -专利权人：中国科学院生态环境研究中心
申请日： 2014-11-05 - 公布日： 2016-05-11 - 主分类号： H01J37/22 文献下载
摘要：一种透射电子显微镜电子衍射CCD成像装置，包括：一传动轴，该传动轴的一端为一扩大部，另一端连接一遮挡部；一保护套，固定在真空保护盒的一侧面，保护套和真空保护盒设有一同轴的通孔；传动轴插设在保护套和真空保护盒的通孔内，传动轴的扩大部置于保护套一侧，遮挡部置于真空保护盒一侧；真空保护盒与透射电子显微镜的镜筒相连接，遮挡部伸入透射电子显微镜内部遮挡透射光源。本发明解决了以往电子衍射成像底片拍照繁琐，数据易丢失的问题，也避免了底片室机械泵噪音对透射电子显微镜分辨率的影响，实现了透射电子显微镜电子衍射CCD成像功能。
一种透射电子显微镜电子衍射 ccd 成像装置

[发明专利]一种提高透射电子显微镜照射样品成功率的方法-CN201310597909.5无效
发明人：高林;唐涌耀;陈强;高金德 -专利权人：上海华力微电子有限公司
申请日： 2013-11-22 - 公布日： 2014-03-19 - 主分类号： G01N23/225 文献下载
摘要：本发明提出了一种提高透射电子显微镜照射样品成功率的方法，通过取样系统中玻璃针的吸附力提取样品以及破损碳膜，摆放在碳膜上表面完好的区域，重新让透射电子显微镜对样品进行拍照，有效地降低了样品的损坏率，改善了透射电子显微镜对样品照射的成功率
一种提高透射电子显微镜照射样品成功率方法

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